Ditapis dengan

  • Tahun Penerbitan
  • Ketersediaan
  • Lampiran
  • Tipe Koleksi
    Lihat Lebih Banyak
  • Format Fisik Dokumen
    Lihat Lebih Banyak
  • Lokasi
    Lihat Lebih Banyak
  • Bahasa
Ditemukan 1 dari pencarian Anda melalui kata kunci: author="K. Nyholm"
cover
: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT: A PUBLICATION OF TH…
Komentar Bagikan
Fak. HukumU. FellerJ. L. HallJ. YeL.-S. MaJ.-M. ChartierH. KarlssonE. PrietoR.S. WindellerS. PicardL. RobertssonP. JuncarJ.-P. WallerandP. BallingP. Kren,K. NyholmM. MerimaaT.E. AholaF. -L. HongF.-L. HongJ. IshikawaK. Sugiyama, A, Onae, H. Matsumoto, J. Ye, And J.L. HallU. Tanaka, J.C. Bergquist, S. Bize, S.A. Diddams, R.E. Drullinger, L. Hollberg, W.M. Itano, C.E. TanJ. Helmcke, G. Wilpers, T. Binnewies, C. Degenhardt, U. Sterr, H. Schantz, And F. RiehleI. Courtillot, A. Quessada, R.P. Kovavich, J.-J. Zondy, A. Landragin, G. Santarelli, A. Clairon, AndJ. Vanier, M.W. Levine, D. Janssen, And M.J. DelaneyT.Y. KwonH.S. LeeS.H. YangS.E. ParkF. LeviL. LoriniD. CalonicoA. Godone

-Guest Editorial-U. Feller, pp. 225 -Optical Frequency Standards And Measurement-J. L. Hall, And J. Ye, pp. 227 -The BIPM Laser Standards At 663 Nm And 532 Nm Simultaneously Linked To The SI Second Using A Femtosecond Laser In In An Optical Clock Configurations- L.-S. Ma, L. Robertsson, S. Picard, J.-M. Chartier, H. Karlsson, E. Prieto, And R.S. Windeller, pp.32 -Results From International …

Edisi
VOL.52, NO.2, APRIL 2003
ISBN/ISSN
0018-9456
Deskripsi Fisik
225-651 hlm, ill; 30cm
Judul Seri
-
No. Panggil
REF 620 TIM i