Ditapis dengan

  • Tahun Penerbitan
  • Ketersediaan
  • Lampiran
  • Tipe Koleksi
    Lihat Lebih Banyak
  • Format Fisik Dokumen
    Lihat Lebih Banyak
  • Lokasi
    Lihat Lebih Banyak
  • Bahasa
Ditemukan 1 dari pencarian Anda melalui kata kunci: author="S. Tabatabaei"
cover
IEEE Transactions On Instrumentation And Measurement: A Publication Of The …
Komentar Bagikan
F. LombardiL. SchianoR. RajsumanM. SahinogluS. R. DasC. V RamamoorthyM. H. Assaf E. M. PetriuW-B. JoneN. MasudaK. YamashitaW. R. EisenstadtR. M. FoxT. ZhangV. NarayananX. XiongY-L. WuA. LaknaurH. HashempourF. J. MeyerJ. M. CazeauxM. OmañaC. MetraC. V. RamamoorthyR. RosalesT. FarahmandS. TabatabaeiA. Ivanov

-First Special Section of the IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT in the Area of VLSI Testing-Future of Semiconductor Test-S. R. Das and R. Rajsuman, pp. 1559 -Revisiting Response Compaction in Space for Full-Scan Circuits With Nonexhaustive Test Sets Using Concept of Sequence characterization-S. R. Das, C. V Ramamoorthy, M. H. Assaf E. M. Petriu, W-B. Jone, and M. Sahinoglu, …

Edisi
Vol.54, No.5, October 2005
ISBN/ISSN
0018-9359
Deskripsi Fisik
pp. 1659-2129, ill; 30cm
Judul Seri
-
No. Panggil
REF 620 TIM i c.1