Ditapis dengan

  • Tahun Penerbitan
  • Ketersediaan
  • Lampiran
  • Tipe Koleksi
    Lihat Lebih Banyak
  • Format Fisik Dokumen
    Lihat Lebih Banyak
  • Lokasi
    Lihat Lebih Banyak
  • Bahasa
Ditemukan 1 dari pencarian Anda melalui kata kunci: author=S. A. Chahine
cover
IEEE Transactions On Instrumentation And Measurement: A Publication Of The …
Komentar Bagikan
L. AngrisaniS. BaglioB. HuyartM. CatelaniM. D'ApuzzoA. BaccigalupiIlmu HukumR. NicolettiS. A. ChahineE. BergeaultL. P. JalletH. LiuD. W MillerJ. C. PedroN. B. de CarvalhoB. Rajesh KumarK. SridharanK. SrinivasanH.-T LueJ.-T LueT.-Y TsengW T KuangA. S. MorrisD. PetriM. BrudkaA. PacutA. RoutrayA. K. Pradhan,Fak. HukumK. P. RaoA. P. J. van DeursenJ. B. M. van Waes,J. AguileraG. MatíasJ. de NóA. García-AlonsoR. BerenguerA. M. ProkhorenkovS. K. GoumasM. E. ZervakisG. S. StavrakakisA. H. TanK. GodfreyG. MuscatoN. Savalli,J. A. R. BallM. StucchiK. MaexF. AminianM. AminianH. W CollinsL. BelostotskiT L. LandeckerD. RoutledgeM. De DominicisF GianniniE. LimitiG. Saggio

-Study of Micromanipulation Using Stereoscopic Microscope- H. Yamamoto and T. Sano, pp. 182 -Flatness Measurement System Based on a NonLinear Optical Triangulation Technique- D. F Garcia, M. Garcia, F. Obeso, and V. Fernandez, pp. 188 -Soft Fault Detection and Isolation in Analog Circuits: Some Results and a Comparison Between a Fuzzy Approach and Radial Basis Function Networks- M. Catelani a…

Edisi
Vol.51, No.3, June 2002
ISBN/ISSN
0018-9456
Deskripsi Fisik
182-398 hlm, ill; 30cm
Judul Seri
-
No. Panggil
REF 620 TIM i