Ditapis dengan

  • Tahun Penerbitan
  • Ketersediaan
  • Lampiran
  • Tipe Koleksi
    Lihat Lebih Banyak
  • Format Fisik Dokumen
    Lihat Lebih Banyak
  • Lokasi
    Lihat Lebih Banyak
  • Bahasa
Ditemukan 1 dari pencarian Anda melalui kata kunci: subject="Non-Traditional Fault...
cover
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT: A PUBLICATION OF THE …
Komentar Bagikan
S. MouradFak. HukumE. M. PetriuS.R. DasR. RajsumanK. ChakabartyM. SeuringM. SudarmaM.H. AssafW.-B. JoneM. SahinogluD.C. HuangP.K. LalaA. L. BurresS.L. LinS. KrishnanJ. SavirZ. GuoA.M. ShethS.F.-C. TsengW.T.-K. ChienE. GongB.-C CaiS. BaglioL. AntoniR. LeveugleB. FeherS.Y.C. CatundaJ.-F. NavinerG. S. DeepR.C.S. FreireS. Abou ChahineB. HuyartJ. AchkarS. Chen,D.-Y. JengH. HadanoY. IshiguroM. NayakamaK. WatanabeT. Chiu

-Guest Editorial-S.R. Das And R. Rajsuman, pp. 1350 -Space Compaction Of Test Responses Using Orthogonal Transmission Functions- K. Chakabarty And M. Seuring, pp. 1353 -Parity Bit Signature In Response Data Compaction And Built-In Self-Testing Of VLSI Circuits With Nonexhaustive Test Sets-S.R. Das, M. Sudarma, M.H. Assaf, E. M. Petriu, W.-B. Jone, K. Chakrabarty, And M. Sahinoglu, pp. 1363 …

Edisi
VOL.52, NO.5, OCTOBER 2003
ISBN/ISSN
0018-9456
Deskripsi Fisik
1350-1692 hlm, ill; 30cm
Judul Seri
-
No. Panggil
REF 620 TIM i